高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱621 工作容積不大 |
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發(fā)布者:無錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時間:2020/10/26 6:33:42 點(diǎn)擊次數(shù):421 關(guān)閉 |
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧設(shè)的檢定項(xiàng)目、檢定用儀器、測量點(diǎn)的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》和GB 2423.18《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶液)所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)的周期檢定。 下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時,所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)版本的可能性。 GB/T2423.17—93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法 GB2423.18—85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶液) GB/T5170.1—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)基本參數(shù)檢定方法 總則 采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測量儀器,其系統(tǒng)度為±0.2℃,傳感器的熱時間常數(shù)不大于20s。 5.1 受檢設(shè)的外觀和安全條件應(yīng)符合GB/T5170.1——1995第8章的要求。 5.2 檢定氣候環(huán)境條件、電源條件、用水條件應(yīng)滿足GB/T5170.1——1995第4章的要求。 鹽霧試驗(yàn)設(shè)的檢定負(fù)載為50mm×1OO×(1~2)mm的鋼板,數(shù)量按工作空間水平橫截面積每平方米不少于160快計。 6.1.1 在被檢定設(shè)工作室內(nèi),定出上、中、下三個水平層面(簡稱上、中、下三層);上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10,中層通過工作室?guī)缀沃行狞c(diǎn),下層在底層樣品架上方10mm處。 6.1.2 測量點(diǎn)位于上、中、下三層,如圖1和圖2,用O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。 測量點(diǎn)O位于工作室的幾何中心(或離噴霧塔適當(dāng)距離),其他各測量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10,但不小于50mm。 測量點(diǎn)E、O、U分別位于上、中、下層的幾何中心,其他各測量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)內(nèi)壁的距離為各自邊長的1/10,但不小于50mm。 6.1.5 若在某測量點(diǎn)上測得的數(shù)據(jù)不符合要求時,可適當(dāng)放寬該測量點(diǎn)到箱壁的距離,并在檢定報告中予以記載。 6.2.1 工作容積不大于2 m3時,測量點(diǎn)5個,除中心點(diǎn)3外,其他各點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)內(nèi)壁的距離約為150 mm如圖3。中心位置有噴霧塔時,中心點(diǎn)可離噴霧塔適當(dāng)距離。 6.2.2 工作室容積大于2 m3時,測量點(diǎn)為9個,除中心點(diǎn)5外,其他各點(diǎn)與內(nèi)壁距離均為170mm,如圖4。中心位置有噴霧塔時,中心點(diǎn)可離噴霧塔適當(dāng)距離。 6.2.3 玻璃漏斗位于測量點(diǎn)上,其上平面與工作室地面的高度為工作室高度的1/3。 d)在所有溫度傳感器達(dá)到35℃并保持在規(guī)定容差范圍內(nèi)后,在30min內(nèi),每2min測量全部測量點(diǎn)的溫度值1次,共15次,并予以記錄。 a)將玻璃漏斗穿過橡皮塞固定在量筒上,布放在圖3、圖4所示測量點(diǎn)的位置上。
8.3 上述各項(xiàng)檢定結(jié)果應(yīng)符合GB/T2423.17和GB2423.18的有關(guān)要求。 [/watermark]已贊過已踩過你對這個回答的評價是?評論收起匿名用戶 |