高高低溫試驗(yàn)箱溫測試目的用來確定元件設(shè)或

　　隨著科技的進(jìn)步，我們的生活中出現(xiàn)的電子產(chǎn)品也就越來越多，就比如說我們?nèi)耸忠徊康氖謾C(jī)以及電腦、平板、相機(jī)等等，現(xiàn)在都已經(jīng)常見的電子產(chǎn)品了。不過可能很多用戶只是使用這些產(chǎn)品的方法，并不是非常清楚這些產(chǎn)品在出之前經(jīng)過了什么樣的檢測。更不清楚這些產(chǎn)品在出之間需要經(jīng)受什么樣的溫度環(huán)境。

　�。ǖ蜏剡\(yùn)行、低溫貯存）試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)在低溫條件下儲存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲存。

　　低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

　　低溫測試目的：用來確定元件、設(shè)或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

　�。ǜ邷剡\(yùn)行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。

　　為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

　　高溫條件下試件的失效模式產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。

　　高溫測試目的：用來確定元件、設(shè)或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存能力。
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