不是用高低溫試驗(yàn)箱來測試內(nèi)存性能的

　　進(jìn)行高溫老化測試。高低溫試驗(yàn)箱 那么，金邦DBT動(dòng)態(tài)高溫老化測試的詳細(xì)流程是怎樣的？ 要使用哪些設(shè)、如何來進(jìn)行動(dòng)態(tài)高溫老化測試呢？本期我們繼續(xù)關(guān)注。

　　上期我們談到，絕大部分用戶買到的內(nèi)存在出前都只進(jìn)行了常溫下的簡單測試。 那么金邦科技新推出的DBT系列內(nèi)存究竟在出前經(jīng)過了哪些“嚴(yán)刑”，終反映到內(nèi)存產(chǎn)品上能帶來什么影響呢？我們就這些問題再次與金邦科技股份有限分管設(shè)計(jì)與測試設(shè)制造的副總經(jīng)理張波先生進(jìn)行了交流。

　　張波于1986年畢業(yè)于美國羅威爾大學(xué)，并在該大學(xué)獲得電機(jī)工程系碩士。1991年應(yīng)邀返回臺(tái)灣，參與臺(tái)灣工業(yè)研究院的小型超級(jí)計(jì)算機(jī)研究發(fā)展計(jì)劃。2005年加入金邦科技，擔(dān)任金邦科技股份有限副總經(jīng)理，主要負(fù)責(zé)集成電路自動(dòng)測試設(shè)、內(nèi)存高溫老化設(shè)的設(shè)計(jì)與制造。

　　Q1：前面我們?cè)��?jīng)談到， 內(nèi)存容易出故障的時(shí)間是其壽命的前10%和后10%階段， 而金邦則是通過DBT高溫老化測試篩選掉在前10%階段品質(zhì)不佳的顆粒， 確保DBT系列內(nèi)存的穩(wěn)定性。 但從另外一個(gè)角度講，高低溫試驗(yàn)箱 這些穩(wěn)定的DBT系列內(nèi)存經(jīng)過此番測試是否就損失了10%的壽命時(shí)間？ 相信有很多讀者都有這樣的疑惑。

　　張：所謂內(nèi)存容易在其壽命的前10%和后10%階段出現(xiàn)故障， 這是指在常規(guī)工作條件下不良IC容易出現(xiàn)故障的時(shí)間， 這是根據(jù)數(shù)據(jù)分析得來的一個(gè)大致規(guī)律。 而DBT實(shí)際測試通常只有幾個(gè)小時(shí)的時(shí)間， 在這個(gè)測試時(shí)間內(nèi)我們只是通過改變運(yùn)行環(huán)境使內(nèi)存滿負(fù)荷工作而讓有缺陷的IC顆粒提早顯現(xiàn)， 而對(duì)能經(jīng)受得住測試的IC顆粒來講不會(huì)產(chǎn)生任何影響。

　　后消費(fèi)者購買到的內(nèi)存產(chǎn)品， 是由完全通過了DBT嚴(yán)格測試的體質(zhì)優(yōu)良的IC構(gòu)成， 而這些內(nèi)存的壽命實(shí)際上比之前未經(jīng)測試的普通內(nèi)存穩(wěn)定性更好。 因此， DBT高溫老化測試能夠篩選出普通內(nèi)存里將在其壽命前10%階段出現(xiàn)故障的IC， 這并不代表DBT測試已經(jīng)使內(nèi)存運(yùn)行了其壽命10%的時(shí)長， 損耗了其10%的壽命。 這是一個(gè)誤解。

　　Q2：那么金邦的高溫老化測試究竟是通過哪些手段來進(jìn)行的，是怎樣的流程呢？

　　制母板。 我們首先會(huì)將待測內(nèi)存插在控制母板上， 然后將它放入老化爐內(nèi)的測試艙里， 并打開老化爐的電源。 接下來控制母板會(huì)進(jìn)行自檢， 如果一切正常老化爐則會(huì)打開加熱系統(tǒng)的電源。 加熱系統(tǒng)啟動(dòng)后會(huì)以循環(huán)風(fēng)的方式使測試艙均勻受熱， 各控制母板之間將相互通信，步入式高低溫試驗(yàn)室 確認(rèn)各母板工作正常。 然后老化爐會(huì)根據(jù)各控制母板上的內(nèi)存產(chǎn)品類型， 對(duì)它們進(jìn)行特定的工作電壓、 內(nèi)存延遲參數(shù)設(shè)定。設(shè)置完畢后高溫老化測試正式啟動(dòng)， 測試將在高溫下對(duì)內(nèi)存進(jìn)行各項(xiàng)參數(shù)測試， 一直循環(huán)測試以滿足需要達(dá)到的老化時(shí)間。 如果在老化過程中出現(xiàn)內(nèi)存顆粒NG狀況 （內(nèi)存顆粒出現(xiàn)測試錯(cuò)誤） ， 工作人員將通過老化爐上的監(jiān)視器， 看到內(nèi)存顆粒出錯(cuò)的位置、 數(shù)量以及出錯(cuò)時(shí)間等相關(guān)信息。當(dāng)老化測試結(jié)束后， 老化爐會(huì)輸出相應(yīng)的老化測試報(bào)告， 整個(gè)高溫老化測試過程完成。

　　Q3：我們很好奇， 如果內(nèi)存進(jìn)行老化測試， 在老化爐中的測試溫度與測試時(shí)間是多少呢？測試的設(shè)計(jì)極限是多少？同時(shí)在高溫老化測試中，內(nèi)存會(huì)運(yùn)行什么軟件進(jìn)行測試？

　　張：老化爐中的極限測試溫度與測試時(shí)間分別是100℃與24小時(shí)。 不過在實(shí)際生產(chǎn)中， 老化爐的溫度通常設(shè)定在50℃～60℃左右， 測試時(shí)間在3～6小時(shí)不等。 需要強(qiáng)調(diào)的是， 各款內(nèi)存的測試溫度與時(shí)間并不是一定的， 測試將因?yàn)閮?nèi)存的設(shè)計(jì)需求、 應(yīng)用層面的不同而有所差異。 金邦內(nèi)存的高溫老化測試是一種可定制的動(dòng)態(tài)高溫測試技術(shù)， 定制化就是根據(jù)不同產(chǎn)品和不同應(yīng)用， 來定制不同的老化測試。 也就是說雖然老化測試的極限溫度是100℃，步入式高低溫試驗(yàn)室 但在實(shí)際運(yùn)用中并不是所有產(chǎn)品的高溫老化都會(huì)統(tǒng)一用100℃的溫度來測試。 拿工業(yè)內(nèi)存來說， 部分工業(yè)內(nèi)存應(yīng)用的環(huán)境和要求比普通用戶的內(nèi)存應(yīng)用更為苛刻， 因而工業(yè)內(nèi)存的測試時(shí)間、 溫度會(huì)比普通內(nèi)存更高更長。 而對(duì)筆記本內(nèi)存來說，由于它主要在空間狹小的筆記本機(jī)身里運(yùn)行，并強(qiáng)調(diào)省電節(jié)能的特性， 因此對(duì)筆記本內(nèi)存的測試將主要設(shè)定在高溫、低電壓的環(huán)境下進(jìn)行。在DBT動(dòng)態(tài)高溫老化測試中， 我們將使用金邦自行研發(fā)的高溫老化測試軟件對(duì)內(nèi)存進(jìn)行測試，這種測試軟件與大家常見的Sisoftware Sandra或Everest不同， 不是用來測試內(nèi)存性能的，該軟件將主要通過模擬不同的軟件使用環(huán)境來測試內(nèi)存品質(zhì)， 更接近真實(shí)應(yīng)用。

　　張：我們?cè)谇懊嬉呀?jīng)說過， 由于大部分家用內(nèi)存只會(huì)利用普通主板在常溫狀態(tài)下進(jìn)行簡單的測試， 因此通過高溫老化測試的金邦內(nèi)存與它們相比在品質(zhì)上更有保障。 我們可以根據(jù)不同的內(nèi)存定位和應(yīng)用，通過老化爐來設(shè)定不同的高溫老化測試標(biāo)準(zhǔn) （如溫度、 電壓、 老化時(shí)間），使得內(nèi)存在出之前能得到更接近實(shí)際使用環(huán)境的測試。 比如根據(jù)黑龍系列的“游戲內(nèi)存” 的產(chǎn)品定位，高低溫試驗(yàn)箱模擬游戲環(huán)境下長時(shí)間和高溫度下的運(yùn)行， 使用較高的溫度、 較長的時(shí)間對(duì)其進(jìn)行老化測試； 或者模擬夏季某些地區(qū)的極限高溫環(huán)境、 模擬網(wǎng)吧長時(shí)間開機(jī)運(yùn)行的環(huán)境， 來設(shè)定不同測試時(shí)間和測試溫度。 在DBT動(dòng)態(tài)高溫老化測試過程中， 我們可以發(fā)現(xiàn)有問題的集成電路和早衰顆粒， 所以通過高溫老化測試的內(nèi)存會(huì)具更好的品質(zhì)和穩(wěn)定性。 游戲玩家、 超頻玩家、 網(wǎng)吧用戶、筆記本電腦用戶使用經(jīng)過DBT動(dòng)態(tài)高溫測試的內(nèi)存， 將是更好的選擇。步入式高低溫試驗(yàn)室

　　Q5：后我們想請(qǐng)問張總，DBT動(dòng)態(tài)高溫老化技術(shù)未來哪些領(lǐng)域可以應(yīng)用？ 消費(fèi)者是否只能買到來自金邦的DBT內(nèi)存？

　　張：在未來，我們計(jì)劃將DBT動(dòng)態(tài)高溫老化測試導(dǎo)入所有的金邦內(nèi)存、閃存盤等存儲(chǔ)類產(chǎn)品，以此來提升金邦產(chǎn)品的品質(zhì)。 同時(shí)鑒于不少內(nèi)存商無法進(jìn)行高溫老化測試，我們也將根據(jù)不同的需求為他們提供客制化的DBT高溫老化測試解決方案，讓用戶可以購買到更多通過DBT測試的優(yōu)良存儲(chǔ)產(chǎn)品。從另外一個(gè)層面來講，不僅是存儲(chǔ)業(yè)，IT業(yè)內(nèi)的大部份高端產(chǎn)品其實(shí)都需要通過高溫老化測試來實(shí)現(xiàn)品質(zhì)的保障，所以我們也將致力于在整個(gè)IT業(yè)界全面推廣DBT高溫老化技術(shù)。通過DBT動(dòng)態(tài)高溫老化測試的產(chǎn)品均會(huì)貼上紅色DBT認(rèn)證標(biāo)識(shí)，消費(fèi)者未來購買時(shí)可以留意。
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