步入式高低溫試驗(yàn)室電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) |
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| 發(fā)布者：無錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時(shí)間：2021/2/28 7:27:58 點(diǎn)擊次數(shù)：553 關(guān)閉 |
高低溫交變試驗(yàn)室具有模擬大氣環(huán)境中溫度條件。主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件，以及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫》GBT 2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》GBT 2423.2-2008 ※ 此高低溫交變試驗(yàn)室可根據(jù)實(shí)際負(fù)載、熱量、溫度變化速率為客戶進(jìn)行專門優(yōu)化設(shè)計(jì)。
※高低溫交變試驗(yàn)室主要技術(shù)指標(biāo)均在環(huán)境溫度為+25℃時(shí)、無試樣條件下測得的數(shù)據(jù)。 |
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