高低溫試驗箱試驗Bb和試驗Bd與早期版無 |
| 發(fā)布者:無錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時間:2021/3/20 11:04:44 點擊次數(shù):335 關(guān)閉 |
是用于試驗各種材料如:電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品耐熱、耐寒、耐干性能質(zhì)量檢測的設(shè)。 我生產(chǎn)的高低溫試驗箱可滿足的標準有:GB/T2423.1-2008 GB/T2423.2-2008等國準,同時也可根據(jù)客戶的要求非標定制。 1、高低溫試驗箱滿足GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 2、B/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版無實質(zhì)性的差異,增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)。 1)低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,運輸或貯存的能力。 2)低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T2423.22。 4、B/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 5、B/T2423.2-2008適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Bb和試驗Bd與早期版無實質(zhì)性的差異。 1)低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,運輸或貯存的能力。 2)低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T2423.22。 在此只例舉以上標準,其它標準或高低溫試驗箱非標訂制可通過各種方式向我咨詢,全國統(tǒng)一免費電線! 恒溫恒濕試驗箱冷熱沖擊試驗箱高低溫試驗箱低溫試驗箱鹽霧試驗箱拉力試驗機版權(quán)聲明
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