高低溫試驗(yàn)箱求得其篩選度為SS3=6

　�。洪_(kāi)關(guān)板和接收板是空調(diào)運(yùn)動(dòng)部件的重要結(jié)構(gòu)之一，整個(gè)PCB板上的元器件僅包含光電開(kāi)關(guān)、電阻和二極管，但光電開(kāi)關(guān)售后失效較高。為能夠提前將易失效的元器件篩選出來(lái)，降低開(kāi)關(guān)板和接收板的售后故障率，對(duì)現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)條件以及結(jié)合開(kāi)關(guān)板和接收板上的元器件參數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)條件分析，確定目前能夠?qū)崿F(xiàn)的試驗(yàn)條件。

　　作者張秀鳳 張成成 劉可江 程磊 格力電器(合肥)有限(安徽 合肥 230088)

　　摘要：開(kāi)關(guān)板接收板是空調(diào)運(yùn)動(dòng)部件的重要結(jié)構(gòu)之一，整個(gè)PCB板上的元器件僅包含光電開(kāi)關(guān)、電阻和二極管，但光電開(kāi)關(guān)售后失效較高。為能夠提前將易失效的元器件篩選出來(lái)，降低開(kāi)關(guān)板接收板的售后故障率，對(duì)現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)條件以及結(jié)合開(kāi)關(guān)板接收板上的元器件參數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)條件分析，確定目前能夠?qū)崿F(xiàn)的試驗(yàn)條件。

　　元器件可靠性研究一直是我們不斷探索和總結(jié)的課題，不斷加入新的試驗(yàn)條件，不斷總結(jié)新的試驗(yàn)公式，以求提高產(chǎn)品可靠性。2016年全年的開(kāi)關(guān)板和接收板共計(jì)老化307173pcs，僅篩選出4單故障件，所占比例為13.021PPM，而2016年售后下線單，遠(yuǎn)超老化發(fā)現(xiàn)異常數(shù)，試驗(yàn)的目的遠(yuǎn)遠(yuǎn)沒(méi)有達(dá)到。

　　現(xiàn)將查到的資料與我司現(xiàn)在可靠性試驗(yàn)進(jìn)行對(duì)比，發(fā)現(xiàn)目前我們?cè)囼?yàn)主要存在以下弊端：

　　樣品數(shù)量變化對(duì)老化條件的影響在實(shí)驗(yàn)空間越小時(shí)體現(xiàn)越明顯，現(xiàn)在試驗(yàn)參數(shù)僅有時(shí)間與溫度兩項(xiàng)，忽略樣品數(shù)量這一參數(shù)(本身試驗(yàn)數(shù)量和試驗(yàn)時(shí)間是動(dòng)態(tài)變化的，即在篩選度一定的情況下，老化樣品數(shù)量越多，所需時(shí)間越短)。

　　現(xiàn)有試驗(yàn)統(tǒng)一按照50℃/4H進(jìn)行，但實(shí)際需根據(jù)具體試驗(yàn)樣品因素進(jìn)行調(diào)整。試驗(yàn)時(shí)間需要考慮樣品參數(shù)及數(shù)量和產(chǎn)品實(shí)際狀態(tài)進(jìn)行調(diào)整，試驗(yàn)溫度也需要考慮產(chǎn)品的工作溫度和極限溫度，即使同一編碼的物料，不同家生產(chǎn)的元器件極限溫度也會(huì)有差別，例如用在接收板和開(kāi)關(guān)板上的二極管(編碼為35030152)，結(jié)溫與儲(chǔ)存溫度均有差別，詳見(jiàn)表1。

　　現(xiàn)有光電開(kāi)關(guān)多數(shù)都在做恒定溫度試驗(yàn)，所選試驗(yàn)溫度在存儲(chǔ)范圍之內(nèi)，且不接近存儲(chǔ)溫度的上限或者下限，無(wú)法起到快速篩選出易失效元器件的目的。

　　可靠性試驗(yàn)是通過(guò)施加典型環(huán)境應(yīng)力和工作載荷的方式，用于剔除產(chǎn)品早期缺陷、增長(zhǎng)或測(cè)試產(chǎn)品可靠性水平、檢驗(yàn)產(chǎn)品可靠性指標(biāo)、評(píng)估產(chǎn)品壽命指標(biāo)的一種有效手段�？筛鶕�(jù)需要達(dá)到的目的，在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研制、生產(chǎn)和使用手段，開(kāi)展不同類(lèi)型的可靠性試驗(yàn)。可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目?jī)?nèi)容如圖1所示。

　　環(huán)境應(yīng)力篩選的目的：在產(chǎn)品交付使用前發(fā)現(xiàn)和排除不良元器件、制造工藝和其他原因引入的缺陷造成的早期故障。

　　環(huán)境應(yīng)力篩選的適用對(duì)象：主要適用電子產(chǎn)品(包括元器件、組件和設(shè))，也可用于電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品。

　　常見(jiàn)的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)有恒定高溫試驗(yàn)、冷熱沖擊試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、潮態(tài)試驗(yàn)等，而能夠體現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果的就是篩選度(所設(shè)置的試驗(yàn)條件對(duì)樣品的篩選的強(qiáng)度，篩選度越大，老化試驗(yàn)效果越好)。光電開(kāi)關(guān)目前的老化試驗(yàn)為50℃，4小時(shí)，屬于恒定高溫老化。而光電開(kāi)關(guān)在特殊情況下也會(huì)做冷熱沖擊試驗(yàn)，下面將對(duì)這兩個(gè)試驗(yàn)進(jìn)行專項(xiàng)分析和對(duì)比，更加直觀地明確試驗(yàn)條件的制定。

　　SS(t)：篩選度;R：高溫與室溫(一般為25℃)的差值;t：恒定高溫持續(xù)時(shí)間。

　　根據(jù)其函數(shù)圖像可知Y是隨X的增大而減小，而X隨R、t增加的而增加，所以可得出結(jié)論：增加篩選度，就要提高溫度和試驗(yàn)時(shí)間。

　　繼之前的篩選度與老化溫度和老化時(shí)間的研究，接下來(lái)就是確定老化時(shí)間。在試驗(yàn)空間很大時(shí)，此處可不計(jì)入計(jì)算，但若在空間很小的試驗(yàn)箱內(nèi)，則需將此點(diǎn)列入試驗(yàn)條件當(dāng)中。確定時(shí)間公式為：

　　MTBF：平均失效間隔，MTBF值越大，產(chǎn)品可靠性越高，產(chǎn)品失效分為產(chǎn)品整體失效和產(chǎn)品組件失效，此處失效定為產(chǎn)品組件失效;

　　其中，n為樣品數(shù)，t為每個(gè)樣品數(shù)所用的時(shí)間。時(shí)間T與樣品數(shù)n成反比，但樣品數(shù)也不宜過(guò)多，防止擠壓導(dǎo)致其元器件破損或暗裂。

　　利用熱脹冷縮原理，進(jìn)行高低溫循環(huán)試驗(yàn)，可以檢測(cè)出光電開(kāi)關(guān)內(nèi)部焊接不良問(wèn)題。高低溫循環(huán)實(shí)驗(yàn)篩選度：

　　其中，R為高低溫之間的溫度差，V為溫度循環(huán)中溫度變化率，N為溫度循環(huán)次數(shù)。

　　試驗(yàn)條件：50℃/1H、-10℃/1H，經(jīng)了解，溫度由50℃變?yōu)?10℃時(shí)間約為半個(gè)小時(shí)，溫度變化率為2，求得其篩選度為SS2=7.18%。

　　試驗(yàn)條件：50℃/4H、-20℃/2H，溫度由50℃變?yōu)?20℃時(shí)間約為50分鐘，溫度變化率為1.4，求得其篩選度為SS3=6%。

　　高低溫循環(huán)試驗(yàn)的篩選度與循環(huán)次數(shù)的關(guān)系要高于與老化試驗(yàn)半個(gè)周期時(shí)間的關(guān)系，而老化試驗(yàn)箱的溫度變化率則隨著設(shè)置的高低溫而改變，且溫度由低溫到高溫變化的時(shí)間要比由高溫到低溫的時(shí)間長(zhǎng)。因此在設(shè)計(jì)高低溫循環(huán)老化試驗(yàn)時(shí)會(huì)著重考慮高低溫設(shè)置、循環(huán)次數(shù)，試驗(yàn)方案需先進(jìn)行低溫，再進(jìn)行高溫，保證元器件在老化試驗(yàn)箱中符合設(shè)定溫度的狀態(tài)滿足所設(shè)置的時(shí)間條件。

　　另外，上述高低溫循環(huán)試驗(yàn)僅僅進(jìn)行了一個(gè)周期的循環(huán)，若增加一個(gè)循環(huán)，將試驗(yàn)條件定為高溫50℃、低溫-10℃，高溫和低溫各1小時(shí)，循環(huán)2次，則篩選度為SS=1-exp{-0.0017(60+0.6)^0.6[Ln(e+2) ]^3*2}=13.84%，篩選度提高近一倍。

　　由上述分析可知，高低溫循環(huán)試驗(yàn)的篩選度明顯高于恒定高溫的篩選度，而在確定溫度時(shí)，也要考慮樣品元器件的極限溫度， 在老化接收板和開(kāi)關(guān)板的試驗(yàn)條件設(shè)定中，可將板上元器件的溫度范圍綜合起來(lái)考慮，求出元器件溫度的交集，將這個(gè)交集作為試驗(yàn)設(shè)定的基準(zhǔn)。經(jīng)查詢接收板和開(kāi)關(guān)板的與溫度相關(guān)的元器件為光電開(kāi)關(guān)和二極管，螺釘、板件連線以及碳膜電阻在圖紙上均無(wú)溫度要求;開(kāi)關(guān)盒可耐200℃高溫(非明火)。步入式高低溫試驗(yàn)室僅剩光電開(kāi)關(guān)以及二極管的溫度作為參考，具體數(shù)據(jù)如表2所示。

　　由此可見(jiàn)，實(shí)驗(yàn)溫度低溫設(shè)置不宜低于-20℃，高溫不宜超過(guò)75℃(開(kāi)關(guān)板1不宜超過(guò)85℃)。高低溫循環(huán)試驗(yàn)過(guò)程如圖3所示。

　　一個(gè)循環(huán)周期T：2小時(shí)≤T=t1+ t2+ t3+ t4≤1小時(shí)20分，為滿足試驗(yàn)對(duì)象在試驗(yàn)條件中的時(shí)間要求，取T=1小時(shí)20分;若老化試驗(yàn)箱可提高溫度變化率即減少t2、t4的時(shí)間，試驗(yàn)周期可減小。

　　對(duì)比可知，方案3的篩選度，老化效果，雖老化時(shí)間較長(zhǎng)，但4小時(shí)可滿足現(xiàn)有生產(chǎn)周期(4小時(shí)為現(xiàn)有老化時(shí)間)，因此循環(huán)可執(zhí)行3次。而在物料處于敏感時(shí)期，則可增加循環(huán)次數(shù)或者適當(dāng)提高試驗(yàn)溫度(根據(jù)對(duì)應(yīng)的板，不宜超過(guò)該板上元器件的極限溫度)。

　　常溫下恢復(fù)1h，外觀檢驗(yàn)無(wú)異常，性能參數(shù)應(yīng)符合將光電開(kāi)關(guān)焊接到電路板或試驗(yàn)裝置上測(cè)試，輸入、輸出功能及其性能參數(shù)應(yīng)符合技術(shù)圖紙的要求，若測(cè)試出現(xiàn)故障品，每一單故障品都要經(jīng)過(guò)篩選專業(yè)分析，給出確切的結(jié)果，制定相應(yīng)的物料調(diào)整，確保所生產(chǎn)的產(chǎn)品均為使用壽命長(zhǎng)的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品。

　　目前的可靠性試驗(yàn)條件單一，篩選度較理論值比仍然較低，后續(xù)方向應(yīng)該以通電老化+溫度調(diào)節(jié)+動(dòng)態(tài)測(cè)試的模式。通電老化是為了以光電開(kāi)關(guān)的真實(shí)工作下作為模擬環(huán)境;利用溫度變化沖擊來(lái)加重環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的影響，縮短性能較差的產(chǎn)品失效的時(shí)間;部分故障現(xiàn)象在老化過(guò)程中可能出現(xiàn)，但當(dāng)樣品放置在室溫恢復(fù)后，步入式高低溫試驗(yàn)室故障現(xiàn)象可能消失，增加動(dòng)態(tài)測(cè)試可篩選出一部分潛在的故障。

　　[1]胡湘洪,高軍,李勁.可靠性試驗(yàn)[M].北京:電子工業(yè)出版社,2015,10.

　　[2]馬海川,李彩霞.加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析[M].石家莊:河北科學(xué)技術(shù)出版社,1998.

　　本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》2017年1期第47頁(yè)，歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用，并注明出處。步入式高低溫試驗(yàn)室
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