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| 發(fā)布者:無錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時間:2021/3/16 17:36:05 點擊次數(shù):571 關閉 |
2014年11月27日-28日,全國半導體設和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)2014年年會在安徽省蕪湖市召開。來自全國各地光伏計量測試領域的單位、企業(yè)專業(yè)人士齊聚一堂!毒w硅光伏組件電致發(fā)光缺陷測試系統(tǒng)要求規(guī)范》和《光伏組件用紫外老化箱校準規(guī)范》等多項國家標準通過立項評審。 本次會議由全國半導體設和材料標準化技術委員會副主任委員、中國電子技術標準化研究院副院長張宏圖主持,全國工業(yè)和信息化部電子信息司司長、SAC/TC203主任委員丁文武,蕪湖市委常委、常務副市長曹哨兵出席會議并分別發(fā)表講話。會議總結了半導體設和材料標準化技術委員會2014年工作,討論、規(guī)劃了2015年的工作重點。 會議還進行了多項國家標準的討論、審定等技術活動。由國家光伏質檢中心(CPVT)牽頭組織起草的《光伏組件用背板》和參與起草的《光伏組件用超薄玻璃》兩項國家標準通過了專家審定。此外,國家光伏產業(yè)計量測試中心提交了《晶體硅光伏組件電致發(fā)光缺陷測試系統(tǒng)要求規(guī)范》和《光伏組件用紫外老化箱校準規(guī)范》國標立項建議書,并進行了現(xiàn)場答辯。兩項建議書均順利通過了委員會的技術專家評審,項目在公示后將報國家標準化管理委員會進行國家標準立項。 據(jù)了解,《光伏組件用紫外老化箱校準規(guī)范》通過對紫外老化試驗箱輻照面的均勻性、紫外光的光譜分布、光源輻照強度和溫度等項目的校準,保證經紫外試驗老化箱的試驗結果能用于光伏組件性能的客觀評判。《晶體硅光伏組件電致發(fā)光缺陷測試系統(tǒng)要求規(guī)范》主要規(guī)定了電致發(fā)光缺陷檢測儀的基本組成、系統(tǒng)構造、安全性能以及成像鏡頭、加電電源、檢測時間等技術內容和測試試驗方法,將有效解決光伏組件的缺陷檢測復核和質量控制問題。 資料顯示,全國半導體設和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)是在國家標準化管理委員會和工業(yè)和信息化部的共同領導下,從事全國半導體設和材料技術領域標準化工作的組織,國際上對口SEMI(國際半導體設和材料協(xié)會),秘書處設在中國電子技術標準化研究院。標委會下設5個分技術委員會和6個工作組,工作范圍涉及半導體材料、光伏材料、平板顯示材料、LED照明材料、電子化學品、電子封裝材料、電子工業(yè)用氣體、微光刻、設等。 2013年4月,國家質檢總局正式批準福建省質監(jiān)局依托福建省計量院籌建國家光伏產業(yè)計量測試中心,5月底開始建設。目前已初步搭建起了服務整個產業(yè)的測試平臺,開始承擔測試任務,為我國光伏產業(yè)提供計量技術保障。 目前,光伏計量中心已在標準制定、科研創(chuàng)新等方面大有建樹。該中心通過積極搜集整理光伏產業(yè)的國際和國內相關標準,參與新國標提案研討,此次提交的《晶體硅光伏組件電致發(fā)光缺陷測試系統(tǒng)要求規(guī)范》和《光伏組件用紫外老化箱校準規(guī)范》國家標準,有助于規(guī)范福建省乃至全國的電致發(fā)光缺陷檢測儀、紫外老化箱等產品質量要求和檢測方法,有利于提升我國光伏產品的國際競爭力。 凡本網注明來源:儀表網的所有作品,版權均屬于儀表網,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明來源:儀表網。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。 本網轉載并注明自其它來源的作品,目的在于傳遞更多信息,性,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品來源,并自負版權等法律責任。
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