其內(nèi)部步入式高低溫試驗室零件要比其外表面 |
 |
| 發(fā)布者：無錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時間：2020/10/24 0:57:24 點擊次數(shù)：463 關閉 |
15. EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。 以上未提到的，關于冷熱沖擊測試中，引起溫度變化及溫度變化的現(xiàn)場條件在“GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分 試驗N:溫度變化”中有提到： 電子設和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當設未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。 當設從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時； 通電后設中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。
當冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。 |
-
銷售熱線：15190289028
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6