高低溫試驗(yàn)箱GB/T 24231-200 |
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發(fā)布者:無(wú)錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時(shí)間:2021/1/10 5:31:15 點(diǎn)擊次數(shù):390 關(guān)閉 |
高低溫試驗(yàn)是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱(chēng),是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。高低溫試驗(yàn)箱是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域必的測(cè)試設(shè),用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 低溫試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 溫度沖擊試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14,GB2423.22,GJB150.5等 下一圖集 /uploads/allimg/190526/1-1Z526214404.jpg /uploads/allimg/190526/1-1Z526214404.jpg
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